TCBは、パッケージされた内部の構造物と電気配線の封止を1工程で行うことができます。TCBで最も使用される材料は、拡散反応が速いAu、Al、Cuなどです。AuはAlやCuに比べて拡散に必要な温度が低く、酸化されにくいという利点があります。拡散速度は、原子が結晶格子間に拡散する際に選択された温度と印加圧力に依存します。ここで、標準的な表面拡散に加えて、粒界拡散とバルク拡散が発生します。
この技術では、電界をかけずに低温でウェーハレベルの接合を実現します。その上で、接合時の応力やアライメントのズレを防ぐために、CTE(熱膨張係数)を適切に制御し、ウェーハの膨張を同期させることが重要です。さらに、加える力とその均一性も重要となり、これは金属の密度(特徴)やウェーハのサイズにも依存します。TCBでは、接合温度と印加圧力が反比例するので、これによって、接合パラメータを調整することが可能となります。


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“Hybrid Bonding and Interconnect Scaling: Driving Application Performance, Power and Cost by Mixing and Matching Semiconductor Technologies” by Representative Director Hiroshi Yamamoto.
“A predictive model for bond strengthening based on ion characteristics and the interface evolution in plasma activated fusion and hybrid bonding” by Deputy Team Leader Process Technology David Doppelbauer.
“From Scaling to Stacking: How Fusion and Hybrid Bonding enable Next-Generation High Performance Chip Architectures” by Business Development Manager Thomas Pleschke.
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Listen to our talk “Enabling Scalable Photonic Packaging using Nanoimprint Lithography” held by Business Development Manager Andrea Kronawitter.
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Visit us at our booth at the CS / PIC and PE International Conference and listen to our talks:
"High performance GaN power devices enabled by wafer bonding" held by Business Development Manager Elisabeth Brandl at the CS Conference.
"Advancing Photonic Packaging and Integration Through UV Nanoimprint Lithography" held by Senior Process Technology Engineer Patrick Schuster at the PIC Conference.
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