TCBは、パッケージされた内部の構造物と電気配線の封止を1工程で行うことができます。TCBで最も使用される材料は、拡散反応が速いAu、Al、Cuなどです。AuはAlやCuに比べて拡散に必要な温度が低く、酸化されにくいという利点があります。拡散速度は、原子が結晶格子間に拡散する際に選択された温度と印加圧力に依存します。ここで、標準的な表面拡散に加えて、粒界拡散とバルク拡散が発生します。
この技術では、電界をかけずに低温でウェーハレベルの接合を実現します。その上で、接合時の応力やアライメントのズレを防ぐために、CTE(熱膨張係数)を適切に制御し、ウェーハの膨張を同期させることが重要です。さらに、加える力とその均一性も重要となり、これは金属の密度(特徴)やウェーハのサイズにも依存します。TCBでは、接合温度と印加圧力が反比例するので、これによって、接合パラメータを調整することが可能となります。

Visit our booth #DS26 and listen to our talks “EVG LayerRelease Technology ; Key Innovations in Carrier Systems: Addressing D2W and W2W Stacking Requirements” held by Corporate Sales & Marketing Director Dr. Thomas Uhrmann and “High Throughput Digital Lithography Development Enables AI and HPC Device Integration” by Business Development Manager Dr. Ksenija Varga.

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on February 25th: “High aspect ratio copper pillar structures enabled by digital lithography patterning of thick resists for AI and HPC device packages” presented by Dr. Ksenija Varga.
on February 26th:"Ultrasonic spray coating combined with maskless lithography for advanced wafer singulation with complex bump geometries" held by Johanna Rimböck and “Lithography Digitalization in Semiconductor Technologies Through Advanced Software Development of High Throughput Maskless Exposure” held by Alois Malzer.

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